MPI SiPH Probe Systems

MPI hat spezielle SiPH-Upgrades für seine bekannten 200- und 300-mm-Tastsysteme entwickelt, die Folgendes umfassen:

Verschiedene Optionen von hochpräzisen Faserausrichtungssystemen für ultraschnelle Scan-Routinen

Mehrere Messmöglichkeiten für O-O, O-E, E-O und E-E Bauteilkonfigurationen

Integrierte Z-Abtastung zur Erkennung des Kontaktpunkts zwischen Faser und Wafer

Crash-Schutz bei Verwendung von zwei Lichtwellenleiterarmen

Großer Temperaturbereich von -50°C bis 200°C

Optionale Darkbox für Tests in lichtarmer Umgebung

Umfangreiches Softwarepaket zur Unterstützung der einfachen Integration in die Testumgebung des Anwenders

Kompatibilität der Tastsysteme:  TS2000-IFE , TS2000-SE , TS3000 , TS3000-SE , TS3500 und TS3500-SE

 Silicon Photonics(SiPH) Probe Systems – MPI Corporation