Prober für Institute & Lehre
MPI ITS25-THZ
Das MPI ITS25-THZ IMPACT™ Test Solution, ermöglicht kostengünstige mmW- und THZ-Tests mit höchstmöglicher Messgenauigkeit. Das System ist mit einem speziellen mmW-Chuck ausgestattet, der das Testen von Submillimeterwellen-MMICs mit einer Größe von 1 x 1 mm und bis zu 25 x 25 mm unterstützt. Der Chuck ist komplett aus Keramik gefertigt und trägt sowohl den Prüfling als auch die Kalibrierstandards. Die dielektrischen Eigenschaften des Chuck-Materials und sein Design sind so optimiert, dass die mögliche Ausbreitung von Moden höherer Ordnung zu unterdrücken, was eine genaue Systemkalibrierung und verlässliche Messergebnisse bei THz-Frequenzen ermöglicht. Das Set von MP80 MicroPositioners und die einzigartige Integration aller auf dem Markt erhältlichen Arten von Frequenzerweiterungen ist für die direkte Montage von Wafer-Probes ausgelegt und macht einen zusätzlichen Hohlleiterabschnitt. Diese Lösung garantiert die bestmögliche Messrichtigkeit des Systems im gesamten Messfrequenzbereich von bis zu 1,5 THz.
MPI TS 50 & IMPACT Universitätspakete
MPI TS50 – das Universitätstalent
Das manuelle Probe System MPI TS50 wurde speziell für IC-Technik, Einzelchip-Probing und den wissenschaftlichen Einsatz in DV-/CV- und HF-Messanwendungen entwickelt. Das TS50 mit seiner kleinen Grundfläche (300 x 300 mm) wurde auf einfachst mögliche Art gebaut, um komfortable Bedienung und schnelle Inbetriebnahme zu ermöglichen, ohne Kompromisse bei Funktionalität und Messmöglichkeiten einzugehen.
Das MPI IMPACT™
Dieses Programm bietet eine einzigartige Kombination vollständiger, anwendungsspezifischer Einstellungen basierend auf den Probe Systemen TS50 und TS150.
Die Einstellungen bieten außerdem FLEXIBILITÄT, dank einer großen Auswahl an austauschbaren Optionen wie Mikroskopen, Mikroskopbewegungen, Thermo-Chucks, Sondenhaltern und anderem Probing-Zubehör.
