VT-S530

Das VT-S530 von Omron ist das branchenweit hochwertigste 3D-AOI-Komplettsystem

Das VT-S530 bietet eine vollständige 3D-AOI-Fähigkeit, hohe Leistung, höchste Erstausbeute, Null-Schlupf und kleinstmöglichen Pseudo-Ausschuss sowie viele weitere Vorteile.

Die VT-S530-Serie mit Pre-/Post-Reflow-Konfiguration ist in Produktionslinien weit verbreitet, die Hochwertigkeit und Qualitätskontrolle erfordern. Die VT-S530-Serie nutzt eine Kombination aus Phasenverschiebung und Omrons einzigartiger Farbbildverarbeitungstechnologie namens „color highlight ™ 3D shape reconstruction technology“, die höchste Genauigkeit bei der Lötstellenprüfung bietet, die als Solder Joint Insprection (SJI) bezeichnet wird.

Die Technik in der VT-S530 hat sich bei der vorhandenen VT-S730-H, die über das gleiche neue Bilderfassungsmodul verfügt, als extrem leistungsstark erwiesen.

Broschüre

Features

  • Traditionsreiche Innovationen und bewährte hochwertige Lösungen
  • Hochgeschwindigkeitskamera mit 12 Megapixel, Draufsicht und telezentrischem Objektiv
  • Neueste programmierbare 3D-DLP-Projektoren (25 mm maximale Höhenprüfung)
  • Einzigartige Beleuchtungstechnologie „Color-Highlight“ von Omron
  • Konfigurationen mit Einzel-/Doppelspur und Pre-/Post-Reflow
  • Echte 3D-Bildtechnologie für die Komponenten- und hochwertige Lötstellenprüfung
  • Interaktives 3D-Datenfeedback in Echtzeit an den Programmierer
  • Betrachten und Bearbeiten von Beispiele aller Elemente auf der Leiterplatte simultan (in Echtzeit)
  • Automatische Erstellung von Histogrammen für alle Abnahmeprüfungen und Komponenten
  • KI-Tools zur Selbstoptimierung für die Durchführung automatisierter Prüflogik- und Kriterienänderungen
  • Echte Fehlerbilder zur Speicherung in der Bibliothek und zur Verbesserung des Optimierungsprozesses
  • Konsistente und quantitative Abnahmeprüfungen und Logik für alle Komponententypen
  • Vollständige 3D-Datenverarbeitung und Umsetzung der Industrie 4.0 Smart Factory-Lösung
  • Industrie 4.0-Konnektivität mittels Hermes-Standard für eine vollständige M2M-Anbindung.
  • Omron Q-upNavi: Eine Kombination aus SPI-, AOI- und AXI-Prüfergebnisdaten für eine echte Ursachenanalyse zur Prozessverbesserung.
  • Omron Q-upAuto: Eine erweiterte Fertigungsanalyse, die Prüfergebnisdaten aus Q-upNavi mit Fertigungsprozessdaten für eine Prozessverbesserung auf hohem Niveau kombiniert.

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