MPI SiPH Probe Systems

MPI ha progettato aggiornamenti dedicati a SiPH per i suoi noti sistemi di sonde da 200 e 300 mm, che comprendono:

Varie opzioni di sistemi di allineamento delle fibre ad alta precisione per routine di scansione ultraveloci

Molteplici funzionalità di misura per la configurazione dei dispositivi O-O, O-E, E-O ed E-E

Sensore Z integrato per il rilevamento del punto di contatto tra fibra e wafer

Protezione dagli urti quando si utilizzano due bracci per fibre ottiche

Ampio intervallo di temperatura da -50°C a 200°C

Dark box opzionale per test in ambienti con scarsa illuminazione

Ampio pacchetto software per supportare una facile integrazione nell’esecutivo di test dell’operatore

Compatibilità con i sistemi di sonde:  TS2000-IFE, TS2000-SE, TS3000, TS3000-SE, TS3500 e TS3500-SE

 Silicon Photonics(SiPH) Probe Systems – MPI Corporation