Le soluzioni di ispezione ad alta potenza di MPI offrono una varietà di sistemi di ispezione che includono versioni manuali, automatizzate e completamente automatizzate per fornire soluzioni per diversi budget e requisiti specifici.

 I sistemi manuali ad alta potenza offrono flessibilità e soluzioni economiche per istituti di ricerca, università e fonderie che necessitano di una caratterizzazione complessa e accurata dei dispositivi, ma non di un volume elevato di misure. Questi sistemi sono progettati per collegarsi a strumenti di misura avanzati ad alta potenza per supportare lavori di ricerca avanzati, senza compromettere l’usabilità, la sicurezza e l’accuratezza delle misure fino a 3 kV (triax) / 10 kV (coax) e 600 A (pulsato).

 I sistemi automatici per alte potenze MPI forniscono misure automatiche ad alta portata programmando la funzionalità step-and-repeat attraverso il software di controllo MPI SENTIO® prober.

MPI High Power Manual Probe Systems

I sistemi di caratterizzazione dei dispositivi ad alta potenza MPI sono progettati specificamente per il test dei dispositivi ad alta potenza on-wafer. I sistemi di sonde MPI TS150-HP e TS200-HP forniscono una soluzione on-wafer completa da 150 mm e 200 mm. Sono progettati per ottenere misure di bassa resistenza di contatto di semiconduttori di potenza in un’ampia gamma di temperature.

MPI High Power Manual Probe Systems – MPI Corporation

TS2000-DP

DarkBox High Power Probe Solution

Con TS2000-DP, MPI offre una stazione di sonda versatile ed economica per la misura di dispositivi ad alta potenza on wafer in un intervallo di temperatura compreso tra 20°C e 300°C, con capacità di misura fino a 3 kV (triassiale) / 10 kV (coassiale) e 600 A (pulsato).

Incorpora la tecnologia avanzata MPI, come il PHC™ opzionale o come aggiornamento sul campo.

MPI TS2000-DP – DarkBox High Power Probe Solution

TS2000-HP

Advanced High Power Solution

Il TS2000-HP automatizzato di MPI offre misure affidabili di dispositivi ad alta potenza on-wafer in un ampio intervallo di temperature e capacità di misura fino a 3 kV (triax) / 10 kV (coax) e 600 A (pulsato). Advanced ShielDEnvironment™ offre un ambiente di test schermato e a basso rumore.

Incorpora le tecnologie avanzate di MPI, come VCE™ , mDrive™ e/o PHC™ opzionali o come aggiornamento sul campo.

TS2000-HP – Advanced High Power Solution – MPI Corporation

TS3X00-HP

Advanced 300 mm High Power Solutions

I sistemi TS3000-HP e TS3500-HP sono due nuove stazioni di sonda dedicate di MPI per la caratterizzazione di dispositivi ad alta potenza su wafer in un ampio intervallo di temperatura da -60°C a +300°C e in un ampio intervallo di misura di 3 kV (triax) / 10 kV (coassiale) e 600 A. I test su wafer sottili o Taiko sono un’opzione disponibile per entrambi i sistemi.

Entrambi i sistemi incorporano lo ShielDEnvironment™ di MPI per misure a bassissimo rumore e, con il WaferWallet®, il TS3500-HP è la scelta ideale per aumentare la produttività (fino a 10 volte superiore) e per gestire in modo completamente automatico wafer da 150 mm SiC, 200 mm GAN e 300 mm SiGe.

MPI TS3X00-HP – Advanced 300 mm High Power Solutions