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High Power Prober

Les solutions de sondage à haute puissance de MPI offrent une variété de systèmes de sondage qui comprennent des versions manuelles, automatisées et entièrement automatisées afin de fournir des solutions pour différents budgets et exigences spécifiques.

 Les systèmes manuels à haute puissance offrent une flexibilité et des solutions rentables pour les instituts de recherche, les universités et les fonderies qui ont besoin d’une caractérisation complexe et précise des dispositifs, mais qui n’ont pas besoin d’effectuer de grandes quantités de mesures. Ces systèmes sont conçus pour être connectés à des instruments de mesure de haute puissance avancés afin de soutenir les travaux de recherche avancés, sans compromettre la convivialité, la sécurité et la précision des mesures jusqu’à 3 kV (triax) / 10 kV (coax) et 600 A (pulsé).

 Les systèmes automatisés de haute puissance de MPI fournissent des mesures automatisées de haut débit en programmant la fonctionnalité de pas et de répétition par le biais du logiciel de contrôle de prober MPI SENTIO®.

 

MPI High Power Manual Probe Systems

Les systèmes de caractérisation des dispositifs MPI High-Power sont spécifiquement conçus pour les tests de dispositifs haute puissance on-wafer. Les systèmes de sondes MPI TS150-HP et TS200-HP fournissent une solution complète sur 150 mm et 200 mm. Ils sont conçus pour réaliser des mesures de faible résistance de contact des semi-conducteurs de puissance dans une large gamme de températures.

MPI High Power Manual Probe Systems – MPI Corporation

 

 

 

TS2000-DP

DarkBox High Power Probe Solution

Avec le TS2000-DP, MPI propose une station de mesure polyvalente et rentable pour la mesure de dispositifs de haute puissance sur wafers dans une plage de température allant de 20°C à 300°C, et une capacité de mesure allant jusqu’à 3 kV (triaxial) / 10 kV (coaxial) et 600 A (pulsé).

Il incorpore la technologie avancée de MPI, comme le PHC™ en option ou en tant que mise à niveau sur le terrain.

 

MPI TS2000-DP – DarkBox High Power Probe Solution

 

 

 

TS2000-HP

Advanced High Power Solution

Le TS2000-HP automatisé de MPI fournit une mesure fiable des dispositifs de haute puissance sur le wafer dans une large gamme de températures et une capacité de mesure jusqu’à 3 kV (triax) / 10 kV (coax) et 600 A (pulsé). Advanced ShielDEnvironment™ offre un environnement de test à faible bruit et blindé.

Il intègre les technologies avancées de MPI, telles que VCE™ , mDrive™ et/ou PHC™ en option ou en tant que mise à niveau sur le terrain.

 

TS2000-HP – Advanced High Power Solution – MPI Corporation

 

TS3X00-HP

Advanced 300 mm High Power Solutions

Le TS3000-HP et le TS3500-HP sont les deux nouvelles stations de sondes dédiées de MPI pour la caractérisation de dispositifs de haute puissance sur wafers dans une large plage de température de -60°C à +300°C et une large plage de mesure de 3 kV (triax) / 10 kV (coax) et 600 A. Le test sur des wafers minces ou Taiko est une option disponible pour les deux systèmes.

 

Les deux systèmes intègrent le ShielDEnvironment™ de MPI pour des mesures à très faible bruit et avec le WaferWallet®, le TS3500-HP est le choix idéal pour les demandes accrues de productivité (jusqu’à 10x plus élevée) et la manipulation entièrement automatique des wafers, par exemple les wafers SiC de 150 mm, GAN de 200 mm, ainsi que les wafers SiGe de 300 mm.

 

MPI TS3X00-HP – Advanced 300 mm High Power Solutions

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