– Développé pour le secteur des semi-conducteurs
– Technologie de contrôle non destructif pour des informations tridimensionnelles en quelques minutes
– Analyse efficace assistée par logiciel Examen automatique incluant l’analyse
– Tube à rayons X nanofocus stable, optimisé pour les scans 3D
– Gestionnaire de boîtes pour la protection composants sensibles aux rayonnements
Fiche technique: English brochure
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